WD4000無(wú)圖晶圓檢測(cè)機(jī):助力半導(dǎo)體行業(yè)高效生產(chǎn)的利器
2023-10-26 晶圓檢測(cè)機(jī),又稱(chēng)為半導(dǎo)體芯片自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備,是用于對(duì)半導(dǎo)體芯片的質(zhì)量進(jìn)行檢驗(yàn)和測(cè)試的專(zhuān)用設(shè)備。它可以用于硅片、硅晶圓、LED芯片等半導(dǎo)體材料的表面檢測(cè),通過(guò)對(duì)晶圓的表面特征進(jìn)行全面檢測(cè),可以有效降低產(chǎn)品的不良率,提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。一種晶圓表面形貌測(cè)量方法-WD4000無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)WD4000無(wú)圖晶圓檢測(cè)機(jī)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3DMapping圖,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、...臺(tái)階儀和輪廓儀在工業(yè)制造領(lǐng)域的區(qū)別和應(yīng)用領(lǐng)域解析
2023-10-26 測(cè)量和檢測(cè)是工業(yè)制造領(lǐng)域的重要環(huán)節(jié),而臺(tái)階儀和輪廓儀則是各有其特點(diǎn)和應(yīng)用范圍的兩種儀器。臺(tái)階儀和輪廓儀區(qū)別在哪?一、臺(tái)階儀1、產(chǎn)品概述臺(tái)階儀是一種接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x器。它是利用光學(xué)干涉原理,對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。2、產(chǎn)品特點(diǎn)臺(tái)階儀在工業(yè)生產(chǎn)中,常用來(lái)保證產(chǎn)品的質(zhì)量和工藝要求的達(dá)標(biāo)。它對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類(lèi)、材料硬度都沒(méi)有特別要求,樣品適應(yīng)面廣,數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效,是微觀表面測(cè)量中使用非常廣泛的...以下便是雙頻激光干涉儀的主要結(jié)構(gòu)組成部分
2023-10-25 雙頻激光干涉儀是一種常用的實(shí)驗(yàn)室儀器,可以用于測(cè)量長(zhǎng)度、形狀、表面粗糙度等物理量。它基于干涉原理,利用激光源發(fā)出兩個(gè)頻率不同的激光束,通過(guò)干涉產(chǎn)生干涉條紋來(lái)進(jìn)行測(cè)量。在激光干涉儀中,激光源會(huì)發(fā)出兩個(gè)頻率不同的激光束,其中一個(gè)激光束為參考光,另一個(gè)激光束則被用來(lái)測(cè)量待測(cè)物體的位移或形變。這兩束激光束會(huì)經(jīng)過(guò)分束器和反射鏡,最終在檢測(cè)器上產(chǎn)生干涉信號(hào)。雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎(chǔ)上發(fā)展的一種外差式干涉儀。和單頻激光干涉儀一樣,激光干涉儀也是一種以波長(zhǎng)作為標(biāo)準(zhǔn)對(duì)被測(cè)長(zhǎng)度進(jìn)行...不曾想閃測(cè)影像儀居然有如此之多的優(yōu)勢(shì)
2023-10-21 閃測(cè)影像儀是一種高速成像設(shè)備,具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。其原理是基于高速攝影技術(shù)。它通過(guò)快速曝光和高幀率的圖像采集,能夠捕捉到非常短暫的事件和快速運(yùn)動(dòng)的物體。這種技術(shù)在許多領(lǐng)域中都非常有用,例如流體力學(xué)研究、爆炸試驗(yàn)、材料測(cè)試等。閃測(cè)影像儀的工作方式包括兩個(gè)主要部分:閃光源和圖像傳感器。閃光源會(huì)產(chǎn)生一道強(qiáng)光脈沖,照亮目標(biāo)物體,而圖像傳感器則負(fù)責(zé)捕捉被照亮的物體的圖像。由于閃光源的特殊設(shè)計(jì),可以實(shí)現(xiàn)非常短暫且高強(qiáng)度的光脈沖,使得被觀察的事件或物體能夠清晰地展現(xiàn)在圖像中。閃測(cè)影像儀具有...白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀):揭秘測(cè)量坑的形貌的利器!
2023-10-18 白光干涉儀廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工程實(shí)踐各個(gè)領(lǐng)域中。它作為一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器,在測(cè)量坑的形貌方面扮演著舉足輕重的角色。白光干涉儀怎么測(cè)量坑的形貌?它是利用干涉現(xiàn)象,使用白光源照射物體,并將反射光經(jīng)過(guò)干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過(guò)觀察干涉圖樣的變化,就可以獲得物體表面形貌的細(xì)節(jié)信息。如何使用白光干涉儀來(lái)測(cè)量坑的形貌?在使用白光干涉儀測(cè)量坑的形貌時(shí),將白光干涉儀的出光口對(duì)準(zhǔn)坑樣的表面,調(diào)整儀器的焦距和位置,直到能夠得到清晰的干涉圖樣。然...關(guān)注公眾號(hào),了解最新動(dòng)態(tài)
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