三維表面輪廓儀是一種用于高精度測量物體表面三維形貌的精密計(jì)量儀器,廣泛應(yīng)用于電子、汽車、半導(dǎo)體、醫(yī)療及材料科學(xué)等領(lǐng)域。該儀器整合了白光干涉、共聚焦顯微鏡等多種光學(xué)測量技術(shù),可自動(dòng)化切換測試模式,實(shí)現(xiàn)非接觸式或接觸式測量,避免對樣品表面造成損傷?;诠鈱W(xué)干涉或激光投射原理,通過發(fā)射白光或激光到被測物體表面,收集反射光或散射光,結(jié)合計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù),重建物體表面的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
1、微觀形貌檢測
三維成像與重建:通過白光干涉、激光掃描等技術(shù),生成高分辨率的三維表面圖像,直觀展示微觀結(jié)構(gòu)特征。
多參數(shù)測量:可量化粗糙度(如Ra、RMS)、臺(tái)階高度、平面度、孔洞深度等參數(shù),支持ISO/ASME/GBT等國際標(biāo)準(zhǔn)。
2、高精度非接觸式測量
納米級分辨率:垂直分辨率達(dá)0.1nm,橫向分辨率低至0.04μm(使用高倍物鏡),適用于超光滑表面檢測。
非接觸無損檢測:避免接觸式測量對樣品的損傷,尤其適合半導(dǎo)體晶圓、光學(xué)鏡片等精密器件。
3、自動(dòng)化與智能化操作
多模式自動(dòng)切換:整合白光干涉、共聚焦顯微鏡、明暗視野成像等技術(shù),實(shí)現(xiàn)模式無縫切換,提升效率。
智能輔助功能:自動(dòng)對焦、條紋識(shí)別、亮度調(diào)節(jié)及防撞保護(hù),降低操作門檻。
4、復(fù)雜表面與大范圍掃描
擴(kuò)展算法支持:如SuperViewW的EPSI算法,兼顧高精度與大范圍掃描,自動(dòng)拼接超光滑凹面或弧形表面。
多區(qū)域拼接測量:最大掃描范圍可達(dá)140×100mm,滿足大尺寸樣品的全域分析需求。
5、跨領(lǐng)域應(yīng)用支持
工業(yè)制造:半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測、3C電子玻璃屏平整度分析、汽車零部件表面質(zhì)量控制等。
科研分析:材料表面磨損評估、薄膜厚度測量(如透明鍍膜)、生物樣品微觀結(jié)構(gòu)研究。
環(huán)境適應(yīng)性:雙通道氣浮隔振系統(tǒng)減少振動(dòng)干擾,反射率0.05%~100%的樣品均可測量。
6、數(shù)據(jù)綜合處理
動(dòng)態(tài)噪聲分析:定量評估環(huán)境振動(dòng)對測量的影響,優(yōu)化實(shí)驗(yàn)條件。
多標(biāo)準(zhǔn)輸出:提供300余種2D/3D參數(shù),覆蓋距離、角度、曲率等分析維度。